基于 UVM的验证平台设计研究

• 作者: 景为平 王国军
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: UVM RFID 验证平台 覆盖率 DUT
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 页码范围: 164-168
• 页数: 5页
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

提出了一种采用UVM（Universal Verification Methodology）验证方法学设计出的适合超高频 RFID芯片解码系统的验证平台。该验证平台相比于传统验证平台具有重用性强、层次化合理、效率高、验证自动化等优点，且该验证平台以覆盖率驱动，显著提高了验证的效率和质量。现该验证平台已成功应用于一款超高频RFID标签芯片解码系统的设计验证，得到了期望的覆盖率，满足设计要求。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	景为平	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	55	267	9.0	13.0
2	王国军	南通大学江苏省专用集成电路设计重点实验室	3	17	2.0	3.0