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新型封装测试技术简介
新型封装测试技术简介
作者:
刘广荣
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
封装测试
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封装测试
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系统级封装
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多芯片模块
封装体
塑料封装
玻璃环氧树脂
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基板
年,卷(期)
bdtxx_2007,(5)
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研究方向
页码范围
31-32
页数
2页
分类号
TN405
字数
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期刊影响力
半导体信息
主办单位:
中国半导体行业协会分立器件分会
中国电子科技集团公司第五十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
CN:
开本:
16开
出版地:
南京市1601信箱43分箱(南京市中山东
邮发代号:
创刊时间:
1990
语种:
chi
出版文献量(篇)
5953
总下载数(次)
11
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