一种检测冗余故障的瞬态电流测试方法

• 作者: 崔昌明 蔡烁 邝继顺
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 数字电路 冗余故障 瞬态电流测试
• 年，卷（期）: 2007,（11）
• 页码范围: 77-79,82
• 页数: 4页
• 分类号: TP331
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2007.11.022

摘要

数字电路中的冗余故障是不能被传统的电压测试方法(Voltage Testing)和稳态电流测试方法(IDDQ Testing)检测出来的.根据瞬态电流测试(IDDQ Testing)的思想,提出一种检测冗余故障的方法,该方法利用扇出重汇聚结构当中从扇出点到重汇聚点的不同路径的延迟差,在重汇聚点形成冒险,以激活故障并进行传播.实验表明,此方法能够有效地检测冗余故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝继顺	湖南大学计算机与通信学院	82	418	11.0	16.0
2	蔡烁	湖南大学计算机与通信学院	15	48	4.0	6.0
3	崔昌明	湖南大学计算机与通信学院	2	5	2.0	2.0