一种基于 LU T和二模冗余的胚胎数字电路故障检测方法

• 作者: 孟亚峰 王涛 蔡金燕
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 胚胎数字电路 LUT 二模冗余 故障检测
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 页码范围: 102-105
• 页数: 4页
• 分类号: TP311
• 语种: 中文

摘要

研究了数字电路故障的基本特点，结合电路自修复对故障信息的要求，提出了一种基于LUT和二模冗余的故障检测方法，该方法利用LUT来存储细胞正常工作的状态，利用正常工作状态和实际工作状态的对比，来实现细胞工作状态的实时监测，从而检测细胞是否故障。该方法能够同时对多个细胞进行检测，增加故障覆盖率，减少了设计的复杂程度和硬件资源的消耗，具有很好的工程实用价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡金燕	军械工程学院电子与光学工程系	144	811	13.0	18.0
2	孟亚峰	军械工程学院电子与光学工程系	56	260	8.0	10.0
3	王涛	军械工程学院电子与光学工程系	16	51	5.0	6.0