含存储器数字电路系统的自动测试生成

• 作者: 成本茂 杨士元 王红 鞠艳秋
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 地球科学
• 关键词: 存储器 结构模型 自动测试生成 故障仿真
• 年，卷（期）: 2007,（23）
• 所属期刊栏目: 工程应用技术与实现
• 页码范围: 252-254,260
• 页数: 4页
• 分类号: N945.12
• 字数: 3005字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2007.23.088

摘要

已有的数字电路自动测试生成(ATPG)软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成.该文分析了2类存储器的功能特征,提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法,其中,ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型, RAM利用新建立的RAMBIT基元等效成利于测试的时序电路模型.将其应用于ATPG软件中,解决了含存储器数字电路的自动测试生成问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨士元	清华大学自动化系	124	1303	17.0	30.0
2	成本茂	清华大学自动化系	7	10	2.0	3.0
3	王红	清华大学自动化系	52	388	11.0	18.0
4	鞠艳秋	清华大学自动化系	2	2	1.0	1.0