多端口技术在插入相位延迟测试中的应用

• 作者: 唐家明 焦永昌 郭利强
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 多状态 多端口 传输特性 雷达罩 差入相位延迟
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 387-391
• 页数: 5页
• 分类号: TM931
• 字数: 3553字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2008.05.002

摘要

基于多端口电路模型,推导出了被测双端口网络散射参数与检测端口测量值的映射关系,提出了相位传输特性测量的电路优化方案.给出了传输特性测量方法和误差估算方法,并结合多状态技术成功应用于微波雷达天线罩插入相位延迟(IPD)设计.研制开发的测试装置在实际应用中重开机无需校准即可达到测量精度要求,相位测量稳定度可长时间维持在士0.05°之内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦永昌	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	99	1155	17.0	27.0
2	唐家明	西安电子科技大学天线与微波技术国家重点实验室	18	267	7.0	16.0