X射线衍射法测残余应力的"突变"现象与定峰技巧探讨

• 作者: 宋永伦 席峰 郑卜祥
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: X射线衍射法 残余应力 测试 突变 定峰
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 试验与研究
• 页码范围: 119-122,164
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.22|TG115.23
• 字数: 3725字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2008.03.003

摘要

X射线衍射法(XRD)是一种常用的测试金属表面残余应力的无损检测法.依据X射线应力测试的原理,对试验中遇到的衍射强度"突变"现象进行了初步探讨,并对其产生的原因和定峰中的处理方法进行了具体分析,为进一步发展和完善铝合金焊接残余应力的X射线分析技术提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋永伦	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	99	987	19.0	26.0
2	郑卜祥	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	4	96	4.0	4.0
3	席峰	北京工业大学机械工程与应用电子技术学院	5	76	4.0	5.0