X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素

• 作者: 任丽萍 吉静 吴益文 徐星泓 王晓宇
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 圆棒 表面残余应力 X射线衍射 影响因素
• 年，卷（期）: 2017,（7）
• 所属期刊栏目: 专题报道(残余应力)
• 页码范围: 470-473,523
• 页数: 5页
• 分类号: TG115.22
• 字数: 3680字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11973/lhjy-wl201707003

摘要

采用X射线衍射法测定了圆棒表面的残余应力,讨论了检测方法、检测设备状态、试样状态等因素对检测结果的影响.结果表明:在表面残余应力测定过程中,应在检测设备稳定工作的前提下,根据材料类型和晶体结构来选择检测参数,考虑试样的割取与保护对检测结果的影响;对于组织状态复杂的材料,可适当增加摆动角来提高检测精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴益文	上海大学材料科学与工程学院	70	200	6.0	11.0
5	吉静		23	25	3.0	3.0
6	任丽萍		11	61	5.0	7.0
7	王晓宇	上海大学材料科学与工程学院	2	8	2.0	2.0
8	徐星泓		1	5	1.0	1.0