钾元素对氧化锌压敏电阻电性能的影响

• 作者: 孙丹峰 洪俊伟 章来平 邴绍同
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 钾元素 溶液添加法 压敏电阻 晶界稳定性 影响机理 液相烧结剂
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 17-21
• 页数: 5页
• 分类号: TM862
• 字数: 3038字
• 语种: 中文

摘要

采用溶液添加法在中压压敏电阻中引入金属K+离子.研究不同含量的K+对ZnO压敏电阻电性能的影响及其机理,结果表明:K+能增强ZnO压敏电阻的稳定性,富集在晶界处的K+因补充了晶界处正点中心的数量,使耐受8/20μs峰值电流冲击性能提高;K2O的高温液相烧结促使瓷体的气泡等烧结缺陷减少,使其2ms方波脉冲冲击性能提高:随着K掺入量的增加和烧结时间的延长,晶粒尺寸增大,压敏电压梯度减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪俊伟		1	0	0.0	0.0
2	章来平		1	0	0.0	0.0
3	邴绍同		1	0	0.0	0.0
4	孙丹峰		1	0	0.0	0.0