电缆介质损耗角正切的测量

• 作者: 褚晓锐 钱波
• 来源期刊: 光纤与电缆及其应用技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电缆 介质损耗角正切 测试
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 13-15
• 页数: 3页
• 分类号: TM247
• 字数: 1134字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1908.2008.04.005

摘要

利用DELTA-2000测试仪对电缆试样进行介质损耗角正切(tanδ)的测量试验,发现电缆试样的tanδ开始为负值,但随着测量电压的升高,tanδ逐渐增大,之后tanδ变成正值,直到试样发生表面击穿.对试验结果进行分析,得到电缆试样的tanδ值为负值的主要原因是外界电磁场对电桥的干扰和标准电容损耗较大,并提出了相应的技术处理措施.