基于JTAG的SoC开发接口设计

• 作者: 张涛 张猛华 张鹏
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: JTAG 开发接口 扫描链
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 18-21,27
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 3788字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.08.005

摘要

文章提出一种应用在SoC系统中的开发接口,用于边界扫描测试、调试,程序流跟踪等.在处理器、外设内核和开源(GDB)、商业的调试/仿真器或边界扫描测试设备之间提供支持.通过IEEE 1149.1 JTAG协议接口提供外部调试/仿真器、边界扫描测试设备与内核之间的连接.为了使设计具有实用价值和通用性,该设计重点实现了硬件调试功能中最基本最重要的部分,力求结构简洁、工作可靠.文中的设计通过仿真验证,证明其设计可靠、方案可行,具有很好的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏		60	249	8.0	14.0
2	张涛		56	95	7.0	7.0
3	张猛华		9	11	3.0	3.0