改进的CK度量套件

• 作者: 李晓航 胡晓鹏
• 来源期刊: 西南交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软件度量 CK套件 软件工程 每类加权方法数量 继承树深度 方法内聚性缺乏度
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 35-39
• 页数: 5页
• 分类号: TP311
• 字数: 3666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-2724.2008.01.007

摘要

为弥补CK套件中每类加权方法数量、继承树深度和方法内聚缺乏度等度量指标的缺陷,提出了如下改进的度量指标:每类加权方法参数复杂性(WMACC)、每类加权方法属性复杂性(WACC)、相对继承树深度(RDIT)、方法内聚性(CM)和封装率(ER).用Java的Util包中的类作为测试数据比较了ICK度量套件和CK套件,结果表明,WMACC和CM更准确地反映了方法的复杂性和内聚性,RDIT更适合于纯面向对象系统的环境.WACC和ER提供了对属性复杂性和封装性的度量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓航	西南交通大学信息科学与技术学院	6	79	6.0	6.0
2	胡晓鹏	西南交通大学信息科学与技术学院	11	74	6.0	8.0