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基于FPGA的循环冗余校验算法实现
基于FPGA的循环冗余校验算法实现
作者:
石建平
黄乡生
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
循环冗余校验
生成多项式
现场可编程门阵列
VerilogHDL语言
摘要:
循环冗余校验(CRC)码是数据通信中广泛应用的一种差错检测码.在介绍CRC原理的基础上,以常见的CRC-16为例,用Verilog HDL硬件描述语言设计该算法.利用Altera 公司的EDA开发工具软件Quartus II 6.0,给出仿真波形图以及可以共享的模块,该模块既是CRC码生成器,又是待校验数据的校验器.仿真结果表明, 这是一种实现CRC算法的有效方法,其工作频率可达到420.17 MHz.
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循环冗余校验
并行CRC
差错控制
数字通信系统
循环冗余校验在SOPC中的自定义指令实现
循环冗余校验
可编程片上系统
NIOSⅡ
嵌入式系统
自定义指令
内容分析
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相关学者/机构
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内容分析
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(/次)
(/年)
文献信息
篇名
基于FPGA的循环冗余校验算法实现
来源期刊
信息与电子工程
学科
工学
关键词
循环冗余校验
生成多项式
现场可编程门阵列
VerilogHDL语言
年,卷(期)
2008,(5)
所属期刊栏目
科研通讯
研究方向
页码范围
394-396,400
页数
4页
分类号
TN914.3
字数
1607字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-2892.2008.05.018
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
黄乡生
东华理工大学电子与信息工程学院
38
184
7.0
13.0
2
石建平
东华理工大学电子与信息工程学院
1
3
1.0
1.0
传播情况
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2015(1)
引证文献(0)
二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
循环冗余校验
生成多项式
现场可编程门阵列
VerilogHDL语言
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
太赫兹科学与电子信息学报
主办单位:
中国工程物理研究院电子工程研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
2095-4980
CN:
51-1746/TN
开本:
大16开
出版地:
四川绵阳919信箱532分箱
邮发代号:
62-241
创刊时间:
2003
语种:
chi
出版文献量(篇)
3051
总下载数(次)
7
总被引数(次)
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