嵌入式系统CRC循环冗余校验算法设计研究

• 作者: 彭伟
• 来源期刊: 南京信息工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式 循环冗余校验 差错控制 校验 生成多项式 算法
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 258-265
• 分类号: TP368.1/TN919.3
• 字数: 1930字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-7070.2012.03.009

摘要

介绍了CRC循环冗余校验基本原理及生成多项式表示,分别研究了嵌入式系统CRC-8-Dallas/Maxim与CRC-16-IBM生成多项式及其硬件描述.以DS18B20器件的ROMID/Scratchpad数据校验及Modbus总线网络数据帧校验为倒,通过对生成多项式及硬件描述的分析研究得出了基本比特型校验算法设计,在数学推导的基础上得出了其改进的比特型校验算法及单字节、半字节查表校验算法.为获得更高的校验速度,提出了一种基于块及多表的校验算法,比较了几种校验算法的ROM空间占用与校验处理速度.所设计的CRC校验程序为嵌入式系统数据的可靠传输提供了重要保证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭伟	武汉城市职业学院电子信息工程学院	12	81	4.0	8.0