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摘要:
通过一个仪器抗干扰处理的实践,分析干扰形成错误的机理.首先对干扰进行描述,然后分析错误形成的可能性以及目前解决干扰问题的难点,最后提出对MCU改进的建议.
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文献信息
篇名 MCU需要改进
来源期刊 单片机与嵌入式系统应用 学科 工学
关键词 抗干扰 容错 Watchdog
年,卷(期) 2008,(4) 所属期刊栏目 业界论坛
研究方向 页码范围 5-6,36
页数 3页 分类号 TP3
字数 3402字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1009-623X.2008.04.001
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨福宇 28 96 6.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
抗干扰
容错
Watchdog
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
单片机与嵌入式系统应用
月刊
1009-623X
11-4530/V
大16开
北京海淀区学院路37号《单片机与嵌入式系统应用》杂志社
2-765
2001
chi
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21
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