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摘要:
随着集成电路(IC)技术的不断发展,尤其在90nm和65 nm技术节点,集成电路制造业的投资剧增而随机成品率却在下降.为了提升随机成品率,需要在布线或后布线阶段减小关键面积.文中提出一种基于线性规划降低关键面积的方法,使关键面积在一组条件约束下,通过版图中一些特征量的变化,建立起一个线性规划模型,然后求其最优解,进而得出关键面积的最小值.该方法的优点是把一个版图优化问题转化为数学问题,使问题更精确化,从而为成品率的优化提供了一条新途径.
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文献信息
篇名 基于线性规划的关键面积最小化方法
来源期刊 电子科技 学科 工学
关键词 关键面积 成品率优化 线性规划
年,卷(期) 2008,(10) 所属期刊栏目 电子·电路
研究方向 页码范围 1-4
页数 4页 分类号 TN41
字数 2079字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1007-7820.2008.10.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 任春丽 西安电子科技大学通信工程学院 16 17 2.0 4.0
2 王俊平 西安电子科技大学通信工程学院 31 284 10.0 16.0
3 王强 西安电子科技大学通信工程学院 9 42 3.0 6.0
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2015(1)
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研究主题发展历程
节点文献
关键面积
成品率优化
线性规划
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技
月刊
1007-7820
61-1291/TN
大16开
西安电子科技大学
1987
chi
出版文献量(篇)
9344
总下载数(次)
32
总被引数(次)
31437
论文1v1指导