基于混沌搜索的故障测试集最小化方法

• 作者: 吕炳朝 康波 陈光(禹)
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 混沌 测试集 优化 集成电路
• 年，卷（期）: 2003,（4）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 63-65
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.04.020

摘要

针对集成电路故障测试集最小化问题的具体特点,利用混沌序列来控制搜索过程变量的变化规则,并引入对同一测试矢量所能覆盖的故障同时更新的特殊机制,提出了一种基于混沌搜索的测试集最小化方法,该方法具有很好的全局搜索能力.实验结果验证了该方法的高效性与实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕炳朝	电子科技大学自动化工程学院	37	370	11.0	18.0
2	陈光(禹)	电子科技大学自动化工程学院	12	251	6.0	12.0
3	康波	电子科技大学自动化工程学院	35	272	10.0	15.0