pFlash故障测试算法

• 作者: 倪昊 杨丽婷 王琴 赵子鉴
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: pFlash故障检测算法 棋盘格式向量 March-like算法 Flash故障模型
• 年，卷（期）: 2019,（9）
• 页码范围: 55-60
• 页数: 6页
• 分类号: TN459
• 语种: 中文

摘要

Flash存储器快速发展得益于便携式设备的进步,而pFlash存储器因编程电压低、功耗小并可以有效抑制带-带隧道效应而被广泛应用.由于可靠性和成本是衡量所有存储器设备性能的两个关键指标,本文提出了一种高效的pFlash故障测试算法来减小存储器的测试成本并保证其故障覆盖率.通过改变写入的测试向量以及写入的方式来准确定位pFlash存储器的故障.测试效率较于March-like算法提高了33％,且故障覆盖率仍然为1oo％.此算法用于开发pFlash内建自测试电路(BIST,Built-in Self Test)可以适当减少其硬件开销,用于测试机台可以减少测试时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王琴	上海交通大学电子信息与电气工程学院	74	297	11.0	16.0
2	杨丽婷	上海交通大学电子信息与电气工程学院	1	0	0.0	0.0
3	倪昊		2	0	0.0	0.0
4	赵子鉴		1	0	0.0	0.0