新的激光脉冲表征体系和评价体系

• 作者: 孙新利 朱长军 杨永德
• 来源期刊: 杭州电子科技大学学报（自然科学版）
• 关键词: 光脉冲 半高全宽 均方根 表征 评价
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9146.2008.06.005

摘要

在研究超快激光中,常常把半高全宽作为表征光脉冲宽度方法.半高全宽光脉冲表征体系具有原理简单,实现方便,容易掌握等优点.但是无法对不规则脉冲进行准确表征与描述.该文在分析半高全宽光脉冲表征体系不足的基础上,提出了基于统计学均方根的光脉冲表征体系.此外,该文还提出了两种光脉冲评价体系,并以模拟光脉冲为例对比了两种体系的优劣,对于超快激光的研究有重要的意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱长军	西安工程大学理学院	51	110	5.0	8.0
2	杨永德	杭州电子科技大学电子信息学院	13	48	4.0	6.0
3	孙新利	杭州电子科技大学电子信息学院	1	0	0.0	0.0