光栅显示图形中直线反走样技术算法的改进

• 作者: 王宇平
• 来源期刊: 哈尔滨理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 反走样 区域取样 直线生成 程序设计A
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 计算机与控制工程
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TP39
• 字数: 1872字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2683.2008.03.015

摘要

从理论上对直线段反走样进行了分析探讨,提出了利用直线段像素存在多段相似性进行反走样技术算法的改进方案.大大提高了反走样速度,节省了反走样时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宇平	哈尔滨理工大学计算中心	4	22	3.0	4.0