电子元器件稳态寿命远程试验信息管理系统

• 作者: 任翔 王宝友 许欣
• 来源期刊: 信息技术与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 B/S结构 C/S结构
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 电子元器件
• 页码范围: 15-18
• 页数: 4页
• 分类号: TN12
• 字数: 2213字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-539X.2008.06.005

摘要

稳态寿命试验是保证电子元器件的使用可靠性和评估微电子器件的质量与可靠性水平的重要试验.针对试验的持续时间长.元器件研制单位地域分布广泛以及监督成本高等问题,提出了电子元器件远程稳态寿命试验监测信息管理系统.采用C/S与B/S混合结构来实现电子元器件远程稳态寿命试验数据采集后期的数据处理、存储及发布.通过信息管理系统能够很好的远程实施异地监测的整个试验过程,保证试验结果的准确性及实时性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王宝友		23	64	4.0	7.0
2	许欣		2	1	1.0	1.0
3	任翔		11	13	2.0	3.0