NI基于PXI的源测量单元和高密度PXI开关模块

• 来源期刊: 世界仪表与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: PXI平台 开关模块 测量单元 高密度 INSTRUMENTS 美国国家仪器有限公司 NI 高精密度
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 67
• 页数: 1页
• 分类号: TM935

摘要

美国国家仪器有限公司（National Instruments，NI）宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source measure unit，SMU）和业界高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域。