基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
CMOS图像传感器中,串扰的大小会影响到图像传感器最终输出图像的质量,串扰越大,最终的图像质量越差,并随着目前像素单元尺寸的逐渐减小,光串扰和电荷串扰都会越来越严重.针对CMOS图像传感器中存在的这2种形式的串扰,结合具体的应用环境,出现了各种各样的解决方案.这些方案多从器件结构改进和材料等方面着手,采取有效措施,将CMOS图像传感器在具体场合应用时的串扰降低到了一个合理的水平.
推荐文章
CMOS图像传感器电路噪声分析
CMOS图像传感器
电路噪声
噪声消除
CMOS阵列响应过程中的电串扰特性研究
阵列探测器
CMOS图像传感器
电串扰
感光面积
CMOS图像传感器研究
CMOS图像传感器
图像传感器
电荷耦合器件
CMOS图像传感器辐射损伤研究
CMOS图像传感器
辐照实验
辐射损伤
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 CMOS图像传感器中的串扰与常用解决方案
来源期刊 传感器与微系统 学科 工学
关键词 CMOS图像传感器 串扰 光串扰 电荷串扰
年,卷(期) 2008,(8) 所属期刊栏目 研究与探讨
研究方向 页码范围 65-68
页数 4页 分类号 TP212.14
字数 2260字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-9787.2008.08.021
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄其煜 上海交通大学微电子学院 37 221 7.0 14.0
2 苏林 上海交通大学微电子学院 10 75 4.0 8.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (10)
节点文献
引证文献  (13)
同被引文献  (25)
二级引证文献  (13)
1996(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1997(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2001(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2003(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2004(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2005(3)
  • 参考文献(3)
  • 二级参考文献(0)
2008(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2009(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2010(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
2011(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2014(3)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(1)
2015(8)
  • 引证文献(4)
  • 二级引证文献(4)
2017(4)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(3)
2018(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
2019(4)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(3)
研究主题发展历程
节点文献
CMOS图像传感器
串扰
光串扰
电荷串扰
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
传感器与微系统
月刊
1000-9787
23-1537/TN
大16开
哈尔滨市南岗区一曼街29号
14-203
1982
chi
出版文献量(篇)
9750
总下载数(次)
43
总被引数(次)
66438
论文1v1指导