浓缩铀镀层的准确定量

• 作者: 刘荣 励义俊 朱通华 林菊芳 温中伟 王大伦 王玫 蒋励 鹿心鑫
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 铀镀层 背对背电离室 小立体角定量装置 半导体探测器 质量厚度
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 页码范围: 817-820
• 页数: 4页
• 分类号: TL811.1
• 字数: 3069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.04.036

摘要

针对实验研究中所用的转换靶(浓缩铀镀片),采用了背对背电离室、小立体角定量装置及大面积金硅面垒半导体探测器三种方式来准确定量其镀层质量厚度,并对结果进行了不确定度分析.