一种区域搜索获取平面光学元件光圈数的方法

• 作者: 曾爱军 江晓军 王向朝 黄惠杰
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光学检测 数字图像处理 条纹分析 检测 加权平均
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 1548-1552
• 页数: 5页
• 分类号: TN911.73
• 字数: 3780字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2008.10.022

摘要

提出一种获取平面光学元件光圈数的方法.通过确定一幅干涉条纹图像中三块测试区域及相应的搜索区域,寻找条纹弯曲量的平均值和相应条纹间距的平均值,根据测试区域对应的权重系数,得到被测平面光学元件光圈数的最佳估计值.通过测量标准光圈并比较目视判读结果,得到最大相对误差为5%.实验结果表明,该方法提高了处理干涉条纹图像的适应性,并可替代人工目视判读干涉条纹图像.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄惠杰	中国科学院上海光学精密机械研究所	69	544	13.0	23.0
2	王向朝	中国科学院上海光学精密机械研究所	170	1628	23.0	35.0
3	江晓军	中国科学院上海光学精密机械研究所	5	64	3.0	5.0
7	曾爱军	中国科学院上海光学精密机械研究所	33	188	8.0	13.0