获取平面光学元件面形偏差的方法研究

• 作者: 刘正国 江晓军 汪志锋 洪晓鸥
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: BP神经网络 数字图像处理 条纹分析 测量
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 581-584,622
• 分类号: TN911.73
• 字数: 3513字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2010.04.023

摘要

提出一种利用BP神经网络获取平面光学元件面形偏差的方法.该方法先确定一幅干涉条纹图像测试区域中条纹弯曲量和条纹间距,然后对BP神经网络进行训练,最后获取被测平面光学元件的光圈教.通过与Zygo激光干涉仪的测量结果进行比较,发现两者的测量结果相吻合.实验结果表明,该方法不仅可以增强处理干涉条纹图像的适应性,而且可以提高测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	洪晓鸥	上海第二工业大学电子与电气工程学院	9	34	4.0	5.0
2	汪志锋	上海第二工业大学电子与电气工程学院	13	58	4.0	7.0
3	刘正国	上海第二工业大学电子与电气工程学院	13	49	4.0	6.0
4	江晓军	上海第二工业大学电子与电气工程学院	9	11	2.0	3.0