模拟智能BIT测试微处理机系统板

• 作者: 姬建新
• 来源期刊: 科技广场
• 学科: 工学
• 关键词: 机内测试技术 智能BIT技术 嵌入式C语言 模拟系统
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 应用与开发
• 页码范围: 171-173
• 页数: 3页
• 分类号: TP368.1
• 字数: 2713字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4792.2008.05.060

摘要

机内测试技术(Built-in Test,简称BIT)是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段.智能机内测试模拟系统是运用智能BIT技术的理论,开发出的一个对硬件设备在线测试的模拟系统.它是在Windows操作系统下,利用嵌入式 C语言开发出来的,嵌入式 C语言现广泛应用于各种硬件测试及开发环境中.智能机内测试模拟系统在对智能的模拟方面运用数组、随机函数等方法来实现,从而体现出智能机内测试的特点.本文描述了系统中对微处理机系统板部分的测试过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姬建新	西安理工大学高等技术学院计算机科学系	11	18	3.0	4.0