数学形态学在磁瓦表面缺陷检测中的运用

• 作者: 严俊龙 郑晓曦
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 磁瓦 缺陷检测 数学形态学 图像处理
• 年，卷（期）: 2008,（16）
• 所属期刊栏目: 图形、图像、模式识别
• 页码范围: 182-184
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 1852字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2008.16.056

摘要

高效、快速的磁瓦图像处理方法是基于机器视觉技术磁瓦表面缺陷检测系统的关键技术之一.由于数学形态学具有简化图像数据,保持它们基本的形状特性,同时天然具有并行实现的结构特点.提出了一种将数学形态学运用到磁瓦表面缺陷检测中的方法.通过选择合适的结构元素,对缺陷图像进行多种形态学运算,提取出缺陷轮廓,并作为缺陷面积计算的基础.实验结果表明,该方法效果良好,缺陷的检测准确率高,计算处理的速度快.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑晓曦	五邑大学信息学院	18	157	6.0	12.0
2	严俊龙	五邑大学信息学院	3	85	2.0	3.0