结构因素对平板裂缝天线辐射单元电性能的影响

• 作者: 严志坚
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 平板裂缝天线 神经网络 实验设计 电性能
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 基金项目论文
• 页码范围: 36-40
• 页数: 5页
• 分类号: TN823
• 字数: 3431字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2009.06.009

摘要

通过正交试验设计和电磁场数值仿真,研究了平板裂缝天线的主要功能构件辐射单元的结构公差对电性能的影响权重关系,建立了辐射单元各结构参数与电性能之间的神经网络模型,分析了缝宽、波导壁厚、缝偏置和缝长对幅度的影响,为平板裂缝天线的设计提供一定的指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	严志坚		2	5	1.0	2.0