裂缝天线缝制造精度对电性能影响的预测

• 作者: 周金柱 李华平 段宝岩 黄进
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 平板裂缝天线 预测 制造精度 支持向量回归
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 机械电子工程
• 页码范围: 1047-1051
• 页数: 5页
• 分类号: TN823
• 字数: 3194字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2009.06.033

摘要

为了避免传统方法在分析结构因素对电性能影响时需要假设和近似处理的弊端,提出了根据平板裂缝天线生产制造中的数据,使用支持向量回归建立缝制造精度对电性能指标影响的预测方法.给出了一种以最小化支持向量回归的拟合能力和泛化能力为目标函数来选择支持向量回归机参数的方法,以方便该方法的工程应用.案例研究表明,该方法能够较准确地预测缝制造精度对电性能的影响;与传统的BP神经网络和最小二乘法对比,该方法具有更好的泛化能力,可以应用到平板裂缝天线的计算机辅助制造中.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段宝岩	西安电子科技大学电子装备结构教育部重点实验室	243	3262	28.0	41.0
2	黄进	西安电子科技大学电子装备结构教育部重点实验室	35	423	11.0	19.0
3	周金柱	西安电子科技大学电子装备结构教育部重点实验室	14	172	7.0	13.0
4	李华平	西安电子科技大学电子装备结构教育部重点实验室	4	15	2.0	3.0