基于决策树自动构造的组装缺陷识别

• 作者: 杨锦荣 欧阳高飞 洪始良 谢宏威 邝泳聪
• 来源期刊: 制造业自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 自动光学检测 缺陷分类 决策树 自动构造
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 检测与监控
• 页码范围: 36-41
• 页数: 6页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 4989字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0134.2009.08.011

摘要

针对当前自动光学检测(AOI)设备不能自动识别缺陷类型的问题,提出一种决策树自动构造的电子元件组装缺陷识别方法.通过计算后续分支的不纯度,实现缺陷分析路径自动构造和优化.实验表明,决策树的自动构造,优化了缺陷的分析过程,提高了缺陷识别的速度和缺陷信息的准确率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邝泳聪	华南理工大学机械与汽车工程学院	56	348	11.0	15.0
2	欧阳高飞	华南理工大学机械与汽车工程学院	23	205	9.0	13.0
3	杨锦荣	华南理工大学机械与汽车工程学院	3	3	1.0	1.0
4	洪始良	华南理工大学机械与汽车工程学院	11	63	5.0	7.0
5	谢宏威	华南理工大学机械与汽车工程学院	10	69	4.0	8.0