高斯滤波器对表面结构分离及其参数评定的实现

• 作者: 刘晓军 崔长彩 李小改 蒋向前
• 来源期刊: 湖北汽车工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 表面结构 高斯滤波器 参数评定 标准数据
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 机械工程
• 页码范围: 47-51
• 页数: 5页
• 分类号: TN713
• 字数: 2244字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5483.2009.02.013

摘要

实现了ISO 11562规范的高斯滤波器对表面轮廓进行滤波,以分离其组成成分.根据ISO标准,对其原始轮廓、波纹度轮廓、粗糙度轮廓典型评定参数进行了计算.其中采用的典型轮廓标准数据是英国国家物理实验室(NPL)与Taylor Hobson公司、英国Huddersfield大学精密技术研究中心,根据ISO 5436-2开发的软件测量标准系统提供的,计算结果与标准参考结果进行了比对,比对结果表明滤波器和评定算法的实现是正确的和有效的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	崔长彩	华中科技大学机械科学与工程学院	55	459	12.0	20.0
3	刘晓军	华中科技大学机械科学与工程学院	60	357	11.0	15.0
4	蒋向前	华中科技大学机械科学与工程学院	37	824	14.0	28.0
10	李小改	华中科技大学机械科学与工程学院	2	23	2.0	2.0