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摘要:
提出采用功率谱密度(PSD)的方法来描述光学元件的"缺陷"分布状况.以数目巨大的微米量级振幅调制型缺陷为例,基于统计思想,得到了光学元件"缺陷"分布等效PSD的求法,并验证了等效求法的合理性.
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文献信息
篇名 高功率固体激光装置光学元件"缺陷"分布的功率谱密度方法及等效求法
来源期刊 物理学报 学科
关键词 功率谱密度 统计分析 等效求法 "缺陷"
年,卷(期) 2009,(9) 所属期刊栏目 唯象论的经典领域
研究方向 页码范围 6279-6284
页数 6页 分类号
字数 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2009.09.063
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功率谱密度
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"缺陷"
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