关于光学元件波面测量中的功率谱密度

• 作者: 于瀛洁 李国培
• 来源期刊: 计量学报
• 学科: 工学
• 关键词: 计量学 波面测量 功率谱密度 光学元件
• 年，卷（期）: 2003,（2）
• 页码范围: 103-107
• 页数: 5页
• 分类号: TB96
• 字数: 4553字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-1158.2003.02.007

摘要

讨论了光学件波面检测中,采用功率谱密度(PSD)作为重要评价参数的原因、相关的国际标准、PSD计算方法及PSD结果的评价准则等.虽然所进行的讨论主要是针对高功率激光系统中的光学元件检测,但对于其它应用领域的检测也是有借鉴意义的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于瀛洁	上海大学精密机械工程系	80	791	16.0	24.0
2	李国培	上海大学精密机械工程系	5	60	4.0	5.0