用功率谱密度坍陷评价光学元件波前中频误差特性

• 作者: 任寰 景峰 程晓锋 蒋晓东 许华 郑万国 钟伟
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 功率谱密度(PSD) 功率谱密度坍陷 Radon变换
• 年，卷（期）: 2005,（10）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 1465-1468
• 页数: 4页
• 分类号: TN209
• 字数: 2578字
• 语种: 中文

摘要

扼要介绍了光学元件波前二维功率谱密度的计算方法,并引入功率谱密度坍陷的概念描述光学元件波前频谱特性.功率谱密度坍陷是对二维功率谱密度在不同角度上进行Radon变换得到的投影,它既利用了光学元件波前的所有有效数据,又沿袭了一维功率谱密度简明直观的特点.虽然功率谱密度坍陷在结果的表现形式和量纲方面与一维功率谱密度相同,但功率谱密度坍陷在评价光学元件波前频谱特性方面比用一维功率谱密度和二维功率谱密度更具优越性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	许华	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	23	287	9.0	16.0
2	程晓锋	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	14	95	6.0	9.0
3	郑万国	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	106	868	15.0	22.0
4	任寰	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	22	177	10.0	13.0
5	蒋晓东	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	47	476	14.0	19.0
6	钟伟	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	17	63	5.0	7.0