国外最新可靠性预计方法综述

• 作者: 张文俊 聂国健 郑丽香
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 元器件 系统 可靠性预计 模型 方法
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: O213.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.02.006

摘要

在分析研究国外近几年发布的典型电子元器件及系统可靠性预计模型及数据手册--RIAC于2006年发布的217Plus以及IEC-TR-62380(2004年发布)的基础上,系统地介绍了两本预计手册中电子元器件和系统的可靠性预计模型和方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂国健		14	47	3.0	6.0
2	张文俊		1	24	1.0	1.0
3	郑丽香		17	69	4.0	8.0