工程用IGBT模块可靠性预计模型探讨

• 作者: 于迪 任艳 余昭杰 史典阳
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 绝缘栅双极晶体管 模块 可靠性预计 模型
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性预计与分配
• 页码范围: 6-10
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.1|TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2015.05.002

摘要

阐述了IGBT模块常见的失效模式、失效机理,并介绍了国外目前较为主流的可靠性预计模型,结合IGBT模块主要的失效模式和当前国产IGBT模块芯片外购、自主封装的生产现状,提出了表征较为全面的工程用国产IGBT模块的可靠性预计模型的方法,为当前国产IGBT模块的使用可靠性的评估提供了有效的支撑.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于迪		16	12	2.0	3.0
2	任艳		15	20	3.0	3.0
3	余昭杰		9	17	2.0	3.0
4	史典阳		11	18	3.0	3.0