可靠性预计及其发展趋向

• 作者: 刘梦军 贺孝涛 陈洁 韩庆田
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性预计 失效物理 失效率
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺
• 页码范围: 14-18
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.05.004

摘要

可靠性预计方法作为设计手段,为设计提供决策依据.但是,随着科技的进步和电子元器件设计制造工艺水平的提高,电子元器件的种类和可靠性水平迅速提高.分析了传统可靠性预计方法所面临的问题,指出了可靠性预计的发展趋向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩庆田	海军航空工程学院军械工程系	53	240	8.0	14.0
2	刘梦军	海军航空工程学院军械工程系	8	99	4.0	8.0
3	贺孝涛		1	15	1.0	1.0
4	陈洁	烟台职工大学机电系	1	15	1.0	1.0