超软赝势方法对V/TiO2薄膜电子态密度的计算

• 作者: 张礼刚 张进福 胡金江
• 来源期刊: 河北建筑工程学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 超软赝势方法 V3+和V4+离子 电子态密度 能带结构
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 105-107
• 分类号: TN3
• 字数: 1508字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-4185.2009.04.033

摘要

根据密度泛函理论和"总体能量-平面波"超软赝势方法计算了V3+和V4+掺杂金红石矿相纳米TiO2的能带结构和电子态密度,分析了V3+和V4+掺杂对W/TiO2晶体电子结构和光学吸收带边的影响.还对V3+和V4+掺杂的TiO2电子态密度进行了比较分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张进福		17	25	3.0	4.0
2	胡金江		26	42	3.0	5.0
3	张礼刚		26	43	3.0	5.0