烧蚀对再入体绕流电子数密度影响的数值研究

• 作者: 何开锋 江涛 高铁锁
• 来源期刊: 空气动力学学报
• 学科: 航空航天
• 关键词: 再入体 底部流动 电子数密度 烧蚀 泰氟隆
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 57-61
• 页数: 5页
• 分类号: V211.3
• 字数: 3410字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-1825.2009.01.010

摘要

从化学非平衡NS方程或其简化形式(粘性激波层方程、PNS方程)出发,采用分区求解的方法数值模拟含泰氟隆烧蚀产物的高超声速再入体流场.首先计算分析了RAM-C飞行试验状态和一个考核算例,对计算方法和程序作了初步验证.其次耦合烧蚀壁面边界条件和流体控制方程,采用19组分28个反应的化学反应模型,对有、无烧蚀情况下高超声速钝锥体再入绕流及底部流场进行了数值模拟,深入分析了烧蚀产物对再入流场电子数密度及温度分布的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何开锋	西北工业大学航空学院	6	67	4.0	6.0
2	高铁锁		34	218	9.0	13.0
3	江涛		38	145	7.0	10.0