新型高品质因数S形缝隙缺陷地结构

• 作者: 张晓娟 方广有 朱轶智
• 来源期刊: 东南大学学报（英文版）
• 学科: 工学
• 关键词: S形缝隙 缺陷地 品质因数
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 431-434
• 页数: 4页
• 分类号: TN713|TN455
• 字数: 497字
• 语种: 英文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-7985.2009.04.003

摘要

针对传统的缺陷地结构品质因数低、不足以产生尖锐的谐振特性问题, 提出了一种新颖的S形缝隙缺陷地结构.与传统的缺陷地结构相比, 该结构具有更高的品质因数、相对更简单而紧凑的布局和更陡峭的阻带特性. 通过分析其传输特性提取了该结构的等效电路模型, 推导了其结构参数的设计方程, 研究了该结构的传输特性随结构参数变化的规律, 并总结了设计该S形缝隙缺陷地结构的经验方法. 根据此方法设计加工了一个中心频率为4.64 GHz的S形缝隙缺陷地结构样品, 其品质因数高达39.66, 尺寸大小仅为5.00mm×1.40mm, 谐振带陡峭而通带插入损耗小, 测量结果和仿真结果相吻合, 从而验证了该S形缝隙缺陷地在实际工程上的适用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方广有	中国科学院电子学研究所	162	1495	20.0	28.0
2	张晓娟	中国科学院电子学研究所	49	260	9.0	13.0
3	朱轶智	中国科学院电子学研究所	2	15	2.0	2.0