0.35μm CMOS工艺的品质因数时域测量电路

• 作者: LLASER Nicolas 任小娇 庄奕琪 张明 越柏鹤
• 来源期刊: 西安电子科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 品质因数 时域测量 片上
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 页码范围: 75-80
• 页数: 6页
• 分类号: TN43
• 字数: 3326字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2400.2017.02.014

摘要

基于品质因数的时域测量方法,提出了一种新的可以片上集成的品质因数测量电路,不仅在特定频率能实现品质因数的精确测量,还可在保持电路精度的前提下,覆盖一定待测信号的频带.在采用之前提出的可重构电路的基础上,改进了峰值探测器的补偿方式,进行了系统精度和扩频所需的理论分析,有效指导了电路的设计.另外,数字控制逻辑的改进,将总功耗降低7.5%.并通过集成电路的方式在0.35μm CMOS工艺下实现此电路,在电源电压为5V,输入信号频率为1MHz的条件下,实现品质因数的相对误差小于±0.2%,并且在精度不变的情况下,将待测信号的频段扩展到100kHz~1.5MHz.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庄奕琪	西安电子科技大学微电子学院	183	1168	15.0	22.0
2	任小娇	西安电子科技大学微电子学院	3	13	2.0	3.0
3	越柏鹤	西安电子科技大学微电子学院	1	0	0.0	0.0