双密度小波中线的表面粗糙度分离技术

• 作者: 刘国栋 刘炳国 李海燕 浦昭邦
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 表面粗糙度 双密度小波 表面评定 中线 波度
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 401-405
• 页数: 5页
• 分类号: TH161|TB92
• 字数: 2496字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7043.2009.04.011

摘要

微纳米检测技术的发展对机械加工表面评定技术提出了更高的要求,准确地分离出表面粗糙度信号显得尤为重要.现有的小波滤波中线存在着滤波结果与采样点起始位置有关的问题.针对于此,提出了一种基于双密度小波中线的粗糙度分离方法,用于工程表面信号的分析,克服了采样点位置对分离结果的影响,提高了分离粗糙度、波度等频率成分的准确性.仿真及实验结果表明,新的双密度小波中线基准能够平移不变的提取表面粗糙度,准确性相比于其他方法提高4%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	浦昭邦	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	108	1776	24.0	36.0
2	李海燕	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	13	142	8.0	11.0
3	刘国栋	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	79	1002	15.0	28.0
4	刘炳国	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	23	197	9.0	13.0