一种自适应测试中曝光度的控制算法

• 作者: 包佃清 苏文
• 来源期刊: 重庆科技学院学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 经典测试理论 项目反应原理 曝光度 逻辑斯蒂
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 页码范围: 136-137,140
• 页数: 3页
• 分类号: TP301.6
• 字数: 2277字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1980.2009.05.044

摘要

介绍了经典测试理论与自适应测试原理,提出了一种在自适应测试中曝光度控制的算法.系统采用三参数逻辑斯蒂模型,针对二值型数据,该系统能有效地解决目前自适应测试中不可避免的试题曝光度问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	包佃清		33	73	5.0	7.0
2	苏文		30	33	3.0	4.0