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光盘寿命及测试方法浅析
光盘寿命及测试方法浅析
作者:
徐杰
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
测试方法
信息存储
存储介质
应力条件
寿命期
业界信息
盘片
存储容量
加速模型
加速老化
摘要:
本文简要说明了信息存储用档案光盘的特点及相关要求,从业界信息方面对光盘寿命及光盘失效因素做出了相关分析,介绍了用于光盘寿命测试的相关标准及其方法,回顾及展望了光盘寿命测试方法及标准的发展历程。
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篇名
光盘寿命及测试方法浅析
来源期刊
记录媒体技术
学科
工学
关键词
测试方法
信息存储
存储介质
应力条件
寿命期
业界信息
盘片
存储容量
加速模型
加速老化
年,卷(期)
2009,(5)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
29-33
页数
5页
分类号
TP333.4
字数
语种
DOI
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传播情况
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引文网络
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2009(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
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二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
测试方法
信息存储
存储介质
应力条件
寿命期
业界信息
盘片
存储容量
加速模型
加速老化
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
记录媒体技术
主办单位:
清华大学光盘国家工程研究中心
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-1268
CN:
11-4992/TP
开本:
大16开
出版地:
北京清华大学华业大厦1409
邮发代号:
创刊时间:
2003
语种:
chi
出版文献量(篇)
1075
总下载数(次)
3
总被引数(次)
606
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