脑缺血发作时脑组织氧饱和度变化的近红外光谱研究

• 作者: 丁海曙 刘芳华 崔媛媛 腾轶超 陈婷
• 来源期刊: 中国医疗器械信息
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 技术报告
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TH776
• 字数: 3013字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-6586.2009.05.006

摘要

缺血性脑血管病为常见、多发病.我国每年新发脑卒中病例超过200万,死于脑卒中约150万[1],在各种死亡原因中脑血管病居首位,其中70%为缺血性卒中[2].在美国每年亦约70万人为新发或复发卒中,是第三位致死原因[3].且脑卒中一旦发生,有效的治疗方法不多,病后完全恢复正常者为数很少[1].因此,积极预防脑卒中并减少其发病率应予以足够重视,一级预防尤为重要.短暂脑缺血发作(TIA)或称"小中风"通常是脑卒中的预兆.在此阶段,如有客观、定量的检测手段,将给临床早期干预提供依据,对减少脑卒中的发生有重要意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁海曙	清华大学医学院生物医学工程系	69	1324	22.0	34.0
2	腾轶超	清华大学医学院生物医学工程系	24	332	11.0	18.0
3	陈婷		8	56	3.0	7.0
4	刘芳华	清华大学医学院生物医学工程系	1	1	1.0	1.0
5	崔媛媛	清华大学医学院生物医学工程系	1	1	1.0	1.0