扩展相容性扫描树中的测试响应压缩器设计

• 作者: 尤志强 成永升 邝继顺
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 全扫描测试 扫描树 测试响应压缩 异或网络
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 500-504
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 字数: 3194字
• 语种: 中文

摘要

在扫描树测试技术中,对相容单元扫描移入相同的测试向量值可以显著地减少测试应用时间,但会使测试需要的引脚数和测试响应数据量增大.为了减少扫描树测试结构需要的引脚数以及测试响应数据量,同时克服错误位扩散带来的困难,在异或网络的基础上,提出一种适用于扫描树结构的测试响应压缩器.该压缩器由扩散抑制电路和异或网络构成,通过抑制电路消除错误位扩散给测试响应压缩带来的困难.最后,用实验数据从性能上分析了该测试响应压缩器的适用性,对于ISCAS89标准电路,最高将输出压缩74倍,且没有混叠产生.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	尤志强	湖南大学软件学院	32	128	5.0	9.0
2	邝继顺	湖南大学计算机与通信学院	82	418	11.0	16.0
3	成永升	湖南大学计算机与通信学院	2	6	2.0	2.0