数字像面全息双曝光法测量物体位移的研究

• 作者: 刘喆 杨坤 王文生
• 来源期刊: 长春理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 像面全息 双曝光法 物体位移 EALCD
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 页码范围: 25-27
• 页数: 3页
• 分类号: TN26
• 字数: 2480字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9870.2009.01.008

摘要

采用数字像面全息图与双曝光干涉法相结合测量物体位移,有效地增强了物光强度.提高了干涉图像的对比度,得到了清晰的干涉图像;并将面阵CCD与电寻址液晶EALCD相结合用于全息再现,成功地避免了传统的全息记录材料显影、定影、全息图复位过程以及材料非线性记录等缺点,取得了较好的实验效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王文生	长春理工大学光电工程学院	88	556	13.0	16.0
2	杨坤	长春理工大学光电工程学院	5	34	3.0	5.0
3	刘喆	长春理工大学光电工程学院	17	33	3.0	5.0