1064 nm和532 nm激光共同辐照薄膜的损伤

• 作者: 周明 李大伟 范正修 赵元安 邵建达
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜 激光损伤阈值 不同波长 缺陷
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 薄膜
• 页码范围: 3050-3054
• 分类号: O484
• 字数: 2625字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL20093611.3050

摘要

建立了两个不同波长激光同时辐照薄膜的损伤阈值测试装置,实验研究和对比1064 nm激光,532 nm激光,1064 nm和532 nm激光共同作用3种不同方式辐照1064 nm和532 nm增透膜(ARF)的损伤阈值及其损伤形貌.结果表明,1064 nm和532 nm激光共同作用损伤形貌和532 nm激光单独作用下的形貌相似,532 nm激光在诱发薄膜损伤因素中起主导作用.1064 nm激光单独辐照薄膜的损伤阈值高于532 nm激光,而1064 nm和532 nm激光共同作用下薄膜的阈值介于这两者之间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邵建达	中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室	212	2131	21.0	29.0
2	范正修	中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室	203	2312	23.0	32.0
3	赵元安	中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室	47	315	11.0	15.0
4	李大伟	中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室	33	183	8.0	13.0
5	周明	中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室	10	58	4.0	7.0