基于ICT切片图像相邻层信息的缺陷自动识别方法

• 作者: 方黎勇 李柏林 王凯 陈黎丽 雷华堂
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷识别 ICT切片图像 拟合椭圆 轮廓匹配 分枝
• 年，卷（期）: 2009,（7）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 1097-1100
• 页数: 4页
• 分类号: TH878|TP391
• 字数: 2652字
• 语种: 中文

摘要

现有的工业计算机断层成像(ICT)图像缺陷识方法中,多采用对单张图像进行孤立评判方法,此类方法未能考虑到单张图像在相邻层图像信息关联性,因而易将孤立的噪音视为缺陷,造成误判.为解决这一问题,提出一种基于序列ICT切片图像自动识别方法,该方法将识别过程分为两步:单张图像的潜在缺陷提取和相邻层图像缺陷的匹配.第一步运用传统方法识别出每张图像中所有潜在缺陷;第二步根据真缺陷在相邻层具有匹配关系而伪缺陷则相对孤立的特点,通过分步匹配的方法确定每张图像上所有潜在缺陷在相邻层图像上的匹配关系,区分出真伪缺陷.最后通过实例验证表明:利用该方法可以有效得提高真缺陷得识别率,降低误判率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李柏林	西南交通大学机械工程学院	139	883	15.0	21.0
2	王凯	西南交通大学机械工程学院	35	217	8.0	14.0
3	雷华堂	西南交通大学机械工程学院	4	9	2.0	2.0
4	方黎勇	西南交通大学机械工程学院	6	19	2.0	4.0
5	陈黎丽	西南交通大学机械工程学院	6	65	3.0	6.0